申请/专利权人:意法半导体(鲁塞)公司
申请日:2023-09-21
公开(公告)日:2024-03-22
公开(公告)号:CN117743020A
主分类号:G06F11/10
分类号:G06F11/10
优先权:["20220922 FR 2209591","20230831 US 18/240,988"]
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开
摘要:本公开涉及管理存储器器件的消耗的方法和对应系统。一种用于管理存储器器件的消耗的方法包括在存储器器件的第一存储器区域的第一部分中执行数据的第一读取。在同一存储器存取期间,从存储器器件的第二存储器区域的第二部分读取纠错码校验位。纠错校验位包括与第一存储器区域的第一部分中的数据相关联的纠错校验位和与附加数据相关联的附加纠错码校验位。所有附加纠错码校验位存储在寄存器中,并且读取第一存储器区域的第一部分中的附加数据。从寄存器中提取与附加数据相关联的纠错码位。
主权项:1.一种系统,包括:存储器器件,包括:第一存储器区,具有被配置为存储数据的第一存储器区域的第一部分;以及第二存储器区,具有被配置为存储与所述数据相关联的纠错码校验位的第二存储器区域的第二部分;寄存器;以及处理电路装置,被配置为:执行对所述第一存储器区域的所述第一部分中的所述数据的第一读取;在同一存储器存取期间读取与所述数据相关联的所述纠错码校验位和与存储在所述第二存储器区域的所述第二部分中的附加数据相关联的附加纠错码校验位;在所述寄存器中存储所述附加纠错码校验位;读取所述第一存储器区域的所述第一部分中的所述附加数据;以及从所述寄存器提取与所述附加数据相关联的所述纠错码校验位。
全文数据:
权利要求:
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