申请/专利权人：中国科学院光电技术研究所

申请日：2023-11-29

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN117740142A

主分类号：G01J1/00

分类号：G01J1/00;G01J1/04

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开

摘要：本申请提供一种涡旋光束的模式检测装置以及方法，该涡旋光束的模式检测装置包括角透镜和成像单元；由于角透镜包括衬底和设置于衬底表面的超构表面单元，并且超构表面单元在所述衬底表面沿着基于阿基米德螺旋线所确定的螺旋环进行排布，通过角透镜对经过的涡旋光束进行调制，可以将涡旋光束的自旋角动量信息和轨道角动量信息在焦面上沿着螺旋线进行编码和调制，并在成像单元上成像；进而通过成像单元获取包括涡旋光束的自旋角动量信息和轨道角动量信息的调制图像，同时实现了对涡旋光束的自旋角动量信息和轨道角动量信息的检测。

主权项：1.一种涡旋光束的模式检测装置，其特征在于，所述装置包括：角透镜和成像单元；所述角透镜包括衬底和设置于衬底表面的超构表面单元；其中，所述超构表面单元在所述衬底表面沿着基于阿基米德螺旋线所确定的螺旋环进行排布；所述角透镜配置为对经过所述角透镜的涡旋光束进行调制，以获得调制后的光场信号；所述成像单元配置为对所述调制后的光场信号进行成像，以获得调制图像；其中，所述调制图像具有所述涡旋光束的模式信息，所述模式信息包括自旋角动量信息和轨道角动量信息。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国科学院光电技术研究所 涡旋光束的模式检测装置以及方法

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