申请/专利权人：西安航天天绘数据技术有限公司

申请日：2023-12-19

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN117748126A

主分类号：H01Q3/02

分类号：H01Q3/02;G01R29/10;G01R1/04;H01Q1/12

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开

摘要：本发明公开了一种宽波束天线测试设备，涉及宽波束天线测试技术领域，包括：转接件将测试设备底座与升降台连接，测试设备底座设置一限位块；天线载体可转动安装在测试设备底座上，待测天线安装在天线载体上，通过升降台调整设备高度，使得待测天线位置与信号源处于同一水平线，转动天线载体，利用限位块进行角度限位固定，根据待测天线不同低仰角性能需求进行测试，解决现有技术中微波暗室只能进行方位向一维平动扫描进行天线法向电性能测试，无法对宽波束天线进行不同低仰角状态下方向图、增益、轴比等电性能扫描的技术问题，达到根据不同低仰角要求进行扫描测试，提高测试便捷性，利用限位块保证不同角度测量稳定性的技术效果。

主权项：1.一种宽波束天线测试设备，其特征在于，所述设备包括：转接件；升降台；测试设备底座，所述转接件将所述测试设备底座与所述升降台连接，所述测试设备底座设置一限位块；天线载体，所述天线载体可转动安装在所述测试设备底座上，利用所述限位块进行转动限位固定；待测天线安装在所述天线载体上，通过所述升降台调整设备高度，使得所述待测天线位置与信号源处于同一水平线，转动所述天线载体，利用所述限位块进行角度限位固定，根据待测天线不同低仰角性能需求进行测试。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 西安航天天绘数据技术有限公司 一种宽波束天线测试设备

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