申请/专利权人：上海概伦电子股份有限公司

申请日：2023-12-01

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN117744552A

主分类号：G06F30/3308

分类号：G06F30/3308;G06F30/337

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开

摘要：本发明公开一种基于继承在循环优化中控制参数趋势的方法，包括以下步骤：基于预设loopdevice模式及参考尺寸的参数确定当前尺寸优化的初值；从Get_Aroud_SizeAPI中读取需要获取的参数类型，继承并获取当前尺寸目标范围内的参考尺寸的参数的值，所述参数的值与所述需要获取的参数类型对应；基于所述参考尺寸的参数的值计算当前尺寸的参数边界；基于所述当前尺寸优化的初值及所述当前尺寸的参数边界，通过预设最优解算法获取当前尺寸的参数最优解。使得当前尺寸优化的初值继承参考尺寸的参数，尽可能避免发生大的跳变，参数离散性好，能够避免后续KOP仿真曲线不够平滑或模型延伸后仿真扭曲等质量问题。

主权项：1.一种基于继承在循环优化中控制参数趋势的方法，其特征在于，包括以下步骤：基于预设loopdevice模式及参考尺寸的参数确定当前尺寸优化的初值；从Get_Aroud_SizeAPI中读取需要获取的参数类型，继承并获取当前尺寸目标范围内的参考尺寸的参数的值，所述参数的值与所述需要获取的参数类型对应；基于所述参考尺寸的参数的值计算当前尺寸的参数边界；基于所述当前尺寸优化的初值及所述当前尺寸的参数边界，通过预设最优解算法获取当前尺寸的参数最优解。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海概伦电子股份有限公司 一种基于继承在循环优化中控制参数趋势的方法及系统

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