申请/专利权人:上海卫星工程研究所
申请日:2023-12-12
公开(公告)日:2024-03-22
公开(公告)号:CN117744352A
主分类号:G06F30/20
分类号:G06F30/20;G06F119/08
优先权:
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开
摘要:本发明提供了一种太阳观测二维指向机构热变形在轨辨识方法及系统,包括如下步骤:步骤一:太阳观测二维指向机构主要变形误差项分析;步骤二:太阳观测二维指向机构热变形严密几何模型建模;步骤三:太阳观测二维指向机构热变形模型简化;步骤四:太阳观测二维指向机构热变形参数在轨辨识;步骤五:太阳观测二维指向机构热变形参数解算。本发明可用于太阳观测仪器二维指向调节,当高精度太阳敏感器失效时仍能精确提供太阳指向角,确保太阳观测仪器实时对准太阳。
主权项:1.一种太阳观测二维指向机构热变形在轨辨识方法,其特征在于,包括:步骤S1:太阳观测二维指向机构变形误差项分析;步骤S2:太阳观测二维指向机构热变形严密几何模型建模;步骤S3:简化太阳观测二维指向机构热变形模型简化;步骤S4:太阳观测二维指向机构热变形参数在轨辨识;步骤S5:太阳观测二维指向机构热变形参数解算。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 上海卫星工程研究所 太阳观测二维指向机构热变形在轨辨识方法及系统
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