申请/专利权人：北京安科慧生科技有限公司

申请日：2020-06-09

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN113777121B

主分类号：G01N23/223

分类号：G01N23/223

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.22#授权;2022.04.12#实质审查的生效;2021.12.10#公开

摘要：本申请提供一种利用X射线荧光光谱仪进行氯含量检测的方法，所述X射线荧光光谱仪使用锗晶体作为次级分光晶体，其包括以下步骤：步骤1、将样品放置在检测处，检测出样品中氯的荧光强度值及锗晶体产生的荧光强度值，并分别定义为I_Cl及I_Ge；步骤2、定义样品氯含量值为X_Cl，将I_Cl及I_Ge代入以下公式：X_Cl＝A0*I_Cl+A1*I_Ge+A2*I_Cl*I_Ge+A3中，得出X_Cl，其中A0、A1、A2及A3为预先使用所述X射线荧光光谱仪对多组已知氯含量的标准样品进行检测而确定的具体数值。本申请通过上述方法检测，可降低高硫样品中硫元素对氯元素的影响，得到的样品氯含量结果更加精确。

主权项：1.一种利用单波长色散X射线荧光光谱仪进行氯含量检测的方法，所述X射线荧光光谱仪使用锗晶体作为次级分光晶体，其特征在于，其包括以下步骤：步骤1、将样品放置在检测处，检测出样品中氯的荧光强度值及锗晶体产生的荧光强度值，并分别定义为I_Cl及I_Ge；步骤2、定义样品氯含量值为X_Cl，将I_Cl及I_Ge代入以下公式：X_Cl＝A0*I_Cl+A1*I_Ge+A2*I_Cl*I_Ge+A3中，得出X_Cl，其中A0、A1、A2及A3为预先使用所述X射线荧光光谱仪对多组已知氯含量的标准样品进行检测而确定的具体数值。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京安科慧生科技有限公司 利用X射线荧光光谱仪进行氯含量检测的方法

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