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【发明公布】一种紧缩场卷边反射面优化方法和系统_航天长屏科技有限公司_202311742677.8 

申请/专利权人:航天长屏科技有限公司

申请日:2023-12-18

公开(公告)日:2024-03-26

公开(公告)号:CN117763957A

主分类号:G06F30/27

分类号:G06F30/27;G06N3/006;G06T17/00

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.12#实质审查的生效;2024.03.26#公开

摘要:本发明公开了一种紧缩场卷边反射面优化方法和系统,方法步骤包括:确定基础设计参数和优化目标函数,确定约束条件,所述约束条件包括高度约束条件和工作频率波长;利用粒子群优化算法进行计算,对曲率半径残差εn、高度约束条件、工作频率波长的和求最优解,使达到曲率半径残差εn最小值;建立二维模型,根据最优解确定二维坐标系中的卷边形状;建立三维曲面模型,计算出其余全部二维坐标系中的卷边,从而合成至三维卷边反射面。基于粒子群优化算法通过对反射面的形状进行迭代计算,可以逐渐逼近理想的反射面形状,提高反射面的精度和稳定性。

主权项:1.一种基于粒子群优化算法的紧缩场卷边反射面优化方法,其特征在于,包括:确定基础设计参数和优化目标函数,确定约束条件,所述约束条件包括高度约束条件和工作频率波长;利用粒子群优化算法进行计算,对曲率半径残差εn、高度约束条件、工作频率波长的和求最优解,使达到曲率半径残差εn最小值,所述曲率半径残差εn满足如下公式: 其中:ae为椭圆半长轴,be为椭圆半短轴,xm为扩展抛物线延伸线在局部坐标系中的最大值,γm为卷边角变量,α为混合函数类型常数,fc为焦距,k为波束,n为求解的曲率阶数;建立二维模型,根据最优解确定二维坐标系中的卷边形状;建立三维曲面模型,计算出其余全部二维坐标系中的卷边,从而合成至三维卷边反射面。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 航天长屏科技有限公司 一种紧缩场卷边反射面优化方法和系统

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