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【发明公布】确定烃源岩再次生烃的盐岩沉积厚度下限值的方法及系统_中国石油天然气股份有限公司_202211130622.7 

申请/专利权人:中国石油天然气股份有限公司

申请日:2022-09-16

公开(公告)日:2024-03-26

公开(公告)号:CN117763779A

主分类号:G06F30/20

分类号:G06F30/20;G06F111/10;G06F119/08

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.12#实质审查的生效;2024.03.26#公开

摘要:本发明公开了一种确定烃源岩再次生烃的盐岩沉积厚度下限值的方法及系统,涉及石油勘探技术领域,所述方法包括:基于盐岩沉积前烃源岩上覆地层沉积厚度Z1,计算盐岩沉积前烃源岩顶面温度T1;基于盐岩沉积前烃源岩上覆地层沉积厚度Z1和盐岩沉积厚度Z2,计算盐岩沉积后烃源岩顶面温度T2;基于所述盐岩沉积前烃源岩顶面温度T1和所述盐岩沉积后烃源岩顶面温度T2,当T2≥T1时,烃源岩将再次生烃;令T2=T1生烃门限温度,计算盐岩沉积厚度下限值Z3。本发明通过明确研究区盐岩厚度、盐岩热物性参数及地表热流,能够定量表征盐下烃源岩的热状态,明确烃源岩成熟度,为进一步研究盐下烃源岩演化及油气成藏过程提供基础性依据。

主权项:1.一种确定烃源岩再次生烃的盐岩沉积厚度下限值的方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:基于盐岩沉积前烃源岩上覆地层沉积厚度Z1,计算盐岩沉积前烃源岩顶面温度T1;基于盐岩沉积前烃源岩上覆地层沉积厚度Z1和盐岩沉积厚度Z2,计算盐岩沉积后烃源岩顶面温度T2;基于所述盐岩沉积前烃源岩顶面温度T1和所述盐岩沉积后烃源岩顶面温度T2,计算盐岩沉积厚度下限值Z3。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国石油天然气股份有限公司 确定烃源岩再次生烃的盐岩沉积厚度下限值的方法及系统

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