申请/专利权人：北京联影智能影像技术研究院

申请日：2023-12-27

公开（公告）日：2024-03-29

公开（公告）号：CN117788350A

主分类号：G06T5/80

分类号：G06T5/80

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.16#实质审查的生效;2024.03.29#公开

摘要：本申请涉及一种伪影校正方法和装置。该方法包括：获取原始平面回波图像和移位平面回波图像；移位平面回波图像是对原始平面回波图像在相位编码方向进行循环移位得到的；基于原始平面回波图像和移位平面回波图像，确定原始平面回波图像的伪影程度量化值；基于伪影程度量化值对原始平面回波图像进行伪影校正，得到伪影校正后的平面回波图像。采用本方法能够使得平面回波图像中的伪影校正充分。

主权项：1.一种伪影校正方法，其特征在于，所述方法包括：获取原始平面回波图像和移位平面回波图像；所述移位平面回波图像是对所述原始平面回波图像在相位编码方向进行循环移位得到的；基于所述原始平面回波图像和所述移位平面回波图像，确定所述原始平面回波图像的伪影程度量化值；基于所述伪影程度量化值对所述原始平面回波图像进行伪影校正，得到伪影校正后的平面回波图像。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京联影智能影像技术研究院 伪影校正方法和装置

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