申请/专利权人:中国科学院上海微系统与信息技术研究所;广东省大湾区集成电路与系统应用研究院
申请日:2023-11-28
公开(公告)日:2024-03-29
公开(公告)号:CN117787152A
主分类号:G06F30/33
分类号:G06F30/33;G06F30/367;G06F119/04
优先权:
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2024.04.16#实质审查的生效;2024.03.29#公开
摘要:本发明提供一种采用电荷俘获‑释放机理的器件老化模型以及建模方法。所述采用电荷俘获‑释放机理的器件老化模型包括退化阶段模型与恢复阶段模型,退化阶段和恢复阶段模型均分为第一周期和后续周期,第一周期采用第一系列拟合参数描述阈值电压的变化,后续周期采用第二系列拟合参数描述描述阈值电压的变化。本发明的模型将第一阶段和后续阶段区别对待,可以拟合不同周期的器件情况,并且在不同的电压偏置下都有较好的拟合结果。
主权项:1.一种采用电荷俘获-释放机理的器件老化模型,包括退化阶段模型与恢复阶段模型,退化阶段和恢复阶段模型均分为第一周期和后续周期,其特征在于,第一周期采用第一系列拟合参数描述阈值电压的变化,后续周期采用第二系列拟合参数描述描述阈值电压的变化。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所;广东省大湾区集成电路与系统应用研究院 采用电荷俘获-释放机理的器件老化模型以及建模方法
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