申请/专利权人:上海联影微电子科技有限公司
申请日:2023-12-28
公开(公告)日:2024-03-29
公开(公告)号:CN117783706A
主分类号:G01R29/24
分类号:G01R29/24;G01N23/046
优先权:
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2024.04.16#实质审查的生效;2024.03.29#公开
摘要:本申请涉及一种基于光电探测器的缺失电荷测量方法、装置和存储介质,其中,该基于光电探测器的缺失电荷测量方法包括:获取目标探测器的光响应拟合曲线;获取目标探测器的电荷分辨极限;基于光响应拟合曲线和电荷分辨极限,确定目标探测器的目标光响应参数和实际光响应参数;进一步地,根据实际光响应参数和目标光响应参数,确定与目标探测器对应的缺失电荷量。通过本申请,解决了无法对缺失电荷量进行准确测量的问题,实现了对缺失电荷问题进行精准抑制和优化。
主权项:1.一种基于光电探测器的缺失电荷测量方法,其特征在于,所述方法包括:获取目标探测器的光响应拟合曲线;获取所述目标探测器的电荷分辨极限;基于所述光响应拟合曲线和所述电荷分辨极限,确定所述目标探测器的目标光响应参数和实际光响应参数;根据所述实际光响应参数和所述目标光响应参数,确定与所述目标探测器对应的缺失电荷量。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 上海联影微电子科技有限公司 基于光电探测器的缺失电荷测量方法、装置和存储介质
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