申请/专利权人：中国科学院福建物质结构研究所

申请日：2022-12-29

公开（公告）日：2024-03-29

公开（公告）号：CN115954070B

主分类号：G16C60/00

分类号：G16C60/00;G06T7/00;G06T5/80;G01N23/207

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.29#授权;2023.04.28#实质审查的生效;2023.04.11#公开

摘要：本发明属于材料细分领域，一种高角度X射线孪生衍射点的衍射强度的校正方法，包括：步骤一、钼靶的X射线源，存在和两种波长的光通过衍射产生两个不同强度相邻衍射点，获取强度大的衍射点P1的位置，计算出该衍射点的取向矩阵；步骤二：根据取向矩阵以及P1衍射点的位置计算出与P1相对应的P2衍射点的位置；步骤三：对P1和P2衍射点分别积分计算出两者的强度IP1和IP2,校正后的强度为I校正＝IP1+IP2。与现有技术相比，本发明的有益效果是：通过对每个坐标系Kh,k,l的两个分立的衍射点的强度分别积分，获得准确的I校正h，k，l，校正后的I校正h，k，l更利于电子结构精修的准确性。

主权项：1.一种高角度X射线孪生衍射点的衍射强度的校正方法，其特征在于：步骤一、钼靶的X射线源，存在和kα2两种波长的光通过衍射产生两个不同强度相邻衍射点，获取强度大的衍射点P1的位置，计算出该衍射点的取向矩阵步骤二：根据取向矩阵以及P1衍射点的位置计算出与P1相对应的P2衍射点的位置，由于P1衍射点与P2衍射点具有相同的取向矩阵U，根据U和以及计算出P2衍射点的精确位置P2x2,y2,z2；步骤三：位置指标参数Kh，k，l下的P1和P2衍射点分别积分计算出两者的强度IP1和IP2,校正后的强度为I校正＝IP1+IP2。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国科学院福建物质结构研究所 一种高角度X射线孪生衍射点的衍射强度的校正方法

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