申请/专利权人：易思维(杭州)科技股份有限公司

申请日：2023-12-29

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN117808777A

主分类号：G06T7/00

分类号：G06T7/00

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.19#实质审查的生效;2024.04.02#公开

摘要：本发明公开一种重叠区域的缺陷去重方法，从第一幅图像开始，对相邻两幅图像依次进行以下处理：获取图像中的缺陷点分别存储到点集P、点集Q；从点集P中各个像素坐标，与点集Q中的各个像素坐标分别组合，判断组合中的两个像素坐标是否为同一个缺陷点；若点集P中某个像素坐标与点集Q中的所有像素坐标均不是同一缺陷点坐标，则将该像素坐标及其所在图像的序号i存储到点集B中；将点集B中的像素坐标记为去重后的缺陷点坐标。本方法对检出缺陷进行合并、筛选，保证了缺陷不误筛除、不漏合并，有效筛除了重复缺陷，保证了缺陷定位的准确性。

主权项：1.一种重叠区域的缺陷去重方法，待测物位于视觉传感器下方，检测时，待测物与视觉检测传感器会多次产生位置平移；所述视觉传感器包括相对位置固定的光源和相机，所述光源呈直线状或劣弧状、大致垂直于平移方向，用于在待测物表面产生均匀条状光带，所述条形光带在待测物局部表面的反射光能满足相机成像需求；当待测物处于相机的视场范围内时，每次产生位置平移，相机均采集待测物局部表面的二维图像，相邻两幅图像之间存在重叠区域；多次采集到的图像拼接后能够覆盖待测物的完整表面；其特征在于，利用以下步骤进行缺陷去重：1将采集到的图像按照时序依次编号，从第一幅图像开始，对相邻两幅图像依次进行以下处理：①分别获取相邻两幅图像中的缺陷点的像素坐标，将前一幅图像中的获取的像素坐标存储到点集P；后一幅图像中的获取的像素坐标存储到点集Q；②从点集P中选取一个像素坐标，将其与点集Q中的各个像素坐标分别组合，得到多个组合，对于每个组合均利用方式A判断组合中的两个像素坐标是否为同一个缺陷点：所述方式A为：计算组合中的两个像素坐标的横、纵坐标差du，dv；若du、dv均小于各自的阈值，则这两个像素坐标是同一个缺陷点坐标；否则，不是同一个缺陷点坐标；遍历点集P中的各个像素坐标，将每个像素坐标分别与点集Q中的各个像素坐标组合，再采用方式A分别判断每个组合中的两个像素坐标对应的缺陷点是否为同一个缺陷点坐标；③若点集P中某个像素坐标与点集Q中的所有像素坐标均不是同一缺陷点坐标，则将该像素坐标及其所在图像的序号存储到点集B中；2将点集B中的像素坐标记为去重后的缺陷点坐标。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 易思维(杭州)科技股份有限公司 一种重叠区域的缺陷去重方法

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