申请/专利权人：北京芯可鉴科技有限公司;北京智芯微电子科技有限公司

申请日：2024-01-19

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN117590206B

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.02#授权;2024.03.12#实质审查的生效;2024.02.23#公开

摘要：本公开涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种可调节芯片测试板和芯片测试方法，所述可调节芯片测试板包括：母板，包括至少一个测试位，所述测试位连接到多条引线，所述引线用于连接待测芯片的相应管脚；跳线区，设置于所述母板；所述跳线区包括至少一个跳线电路，所述跳线电路包括拉偏电阻和拉偏电阻开关；所述引线通过所述跳线电路连接到预设电平。本公开的技术方案通过在芯片测试板上设置跳线区，解决了无法根据测试时芯片的表现对芯片测试板的拉偏状态进行调整的技术问题，达到根据芯片测试需求，灵活设置待测芯片各个管脚的拉偏状态，无需更换新的芯片测试板的技术效果。

主权项：1.一种可调节芯片测试板，其特征在于，包括：母板，包括至少一个测试位，所述测试位连接到多条引线，所述引线用于连接待测芯片的相应管脚；跳线区，设置于所述母板；所述跳线区包括至少一个跳线电路，所述跳线电路包括拉偏电阻和拉偏电阻开关；所述引线通过所述跳线电路连接到预设电平；所述跳线电路包括上拉跳线电路和下拉跳线电路；所述引线通过上拉跳线电路连接到高电平，并且通过所述下拉跳线电路连接到低电平；所述上拉跳线电路中的拉偏电阻为上拉电阻，所述上拉跳线电路中的拉偏电阻开关用于控制所述引线通过所述上拉电阻连接到所述高电平或与所述高电平断开；所述下拉跳线电路中的拉偏电阻为下拉电阻，所述下拉跳线电路中的拉偏电阻开关用于控制所述引线通过所述下拉电阻连接到所述低电平或与所述低电平断开。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京芯可鉴科技有限公司;北京智芯微电子科技有限公司 可调节芯片测试板和芯片测试方法

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