申请/专利权人：中北大学

申请日：2020-11-11

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN112345074B

主分类号：G01J3/02

分类号：G01J3/02;G01J3/28

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.02#授权;2021.03.02#实质审查的生效;2021.02.09#公开

摘要：本发明属于光谱成像遥感分析技术领域，具体涉及一种芯片级星载高光谱成像探测器及其光谱成像方法，包括探测器转接环、光谱透过率伪随机操控超构表面和面阵列探测器，所述光谱透过率伪随机操控超构表面包括基底、介质堆叠层，所述介质堆叠层设置在基底上，所述光谱透过率伪随机操控超构表面的基底通过探测器转接环固定在面阵列探测器的像元上面。本发明进一步提高光谱分辨率和空间分辨率，同时兼顾高通量和多光谱探测通道数，最终实现轻量化、集成化的遥感光谱成像探测装置设计，实现高光谱分辨、高空间分辨、高灵敏度和稳定精确的光谱成像探测。本发明用于对光谱成像的探测。

主权项：1.一种芯片级星载高光谱成像探测器，其特征在于：包括探测器转接环1、光谱透过率伪随机操控超构表面2和面阵列探测器3，所述光谱透过率伪随机操控超构表面2包括基底201、介质堆叠层202，所述介质堆叠层202设置在基底201上，所述光谱透过率伪随机操控超构表面2的基底201通过探测器转接环1固定在面阵列探测器3的像元上面，所述光谱透过率伪随机操控超构表面2的基底201作为面阵列探测器3的像元保护盖片，所述光谱透过率伪随机操控超构表面2通过压缩感知实现光谱编码压缩测量；所述芯片级星载高光谱成像探测器的光谱成像方法，包括下列步骤：S1、根据光谱成像分辨率和光谱成像波段，设计光谱透过率伪随机操控超构表面并在面阵列探测器行方向上镀制；S2、根据制备好的高光谱成像探测器，配置同轴两反系统、同轴三反系统或离轴三反系统光学成像系统构成高光谱成像载荷，并搭载在卫星上；S3、高光谱成像探测器随卫星飞行，在沿飞行方向依次对目标进行光谱透过率伪随机操控编码的推扫测量；S4、每个测量通道获得光谱透过率伪随机操控超构表面后的混叠增强图像，选择稀疏基并结合透过率随机编码测量矩阵，应用OMP、SAMP、IST和Twist算法对稀疏光谱信号求解；S5、利用重构获得稀疏光谱信号，结合光谱信号稀疏进一步重构恢复出光谱图像。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中北大学 一种芯片级星载高光谱成像探测器及其光谱成像方法

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