申请/专利权人：深圳市创维电器科技有限公司

申请日：2023-07-06

公开（公告）日：2024-04-02

公开（公告）号：CN220709290U

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28;G01R1/04;G01R1/28

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.02#授权

摘要：本实用新型公开一种集成电路测试装置及系统，该集成电路测试装置包括基板、中转组件和模拟组件；基板；中转组件，设置在基板上，中转组件上设有接口，供待测试芯片和元器件插接；模拟组件，包括提示器和信号模拟件，提示器与信号模拟件电连接，提示器用于表示待测试芯片性能，信号模拟件与中转组件电连接，用于模拟测试所需电信号。本实用新型技术方案，中转组件固定安装在基板上，中转组件中的接口，以供待测试芯片插接，当待测试芯片插接到接口时，模拟组件可模拟待测试芯片的需测试功能的电信号，如此利用模拟出的电信号即可完成待测试芯片上的不同功能测试。待测试芯片无需再多次插接不同的电器即可完成功能测试。

主权项：1.一种集成电路测试装置，其特征在于，包括：基板；中转组件，设置在所述基板上，所述中转组件上设有接口，供待测试芯片和元器件插接；模拟组件，包括提示器和信号模拟件，所述提示器与所述信号模拟件电连接，所述提示器用于表示待测试芯片性能，所述信号模拟件与所述中转组件电连接，用于模拟测试所需电信号。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳市创维电器科技有限公司 集成电路测试装置及系统

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