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【发明公布】基于光学序列图像的空间多目标点迹延续方法及系统_上海卫星工程研究所_202311772081.2 

申请/专利权人:上海卫星工程研究所

申请日:2023-12-20

公开(公告)日:2024-04-09

公开(公告)号:CN117853536A

主分类号:G06T7/277

分类号:G06T7/277;G06T7/254

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要:本发明提供了一种基于光学序列图像的空间多目标点迹延续方法及系统,包括:对单帧光学图像进行目标位置信息预检测,获取初始目标点位置信息;获得轨迹信息,生成轨迹集;更新当前帧关联后的轨迹,更新次数集;遍历当前帧关联后的每条轨迹,判断是否存在漏检情况并进行存储;遍历存储的漏检轨迹,记录满足精检的漏检信息;根据通知的漏检信息在单帧光学图像中的位置,裁剪设定尺寸的切片图像;对切片图像进行精检,获得位置信息;将位置信息转化成在单帧光学图像中对应的坐标;根据单帧光学图像中对应的坐标位置信息更新轨迹集。本方法适用于多目标背景下暗弱小目标的检测跟踪,同时能够有效地实现目标遮挡、丢失或者模糊等情况下的持续稳定跟踪。

主权项:1.一种基于光学序列图像的空间多目标点迹延续方法,其特征在于,包括:步骤S1:对单帧光学图像进行目标位置信息预检测,获取初始目标点位置信息;步骤S2:根据获取的初始目标点位置信息,结合卡尔曼滤波进行数据关联,获得目标跟踪轨迹信息,生成轨迹集并对生成的轨迹集进行处理;步骤S3:更新当前帧关联后的每条目标跟踪轨迹,生成并更新次数集;步骤S4:遍历当前帧关联后的每条目标跟踪轨迹,结合次数集,判断是否存在漏检情况并对漏检目标跟踪轨迹进行存储,生成漏检信息集,并对漏检信息集进行处理;步骤S5:遍历存储的漏检目标跟踪轨迹,记录满足通知精检介入条件的目标跟踪轨迹漏检信息;步骤S6:根据通知的漏检信息在单帧光学图像中的对应位置,裁剪设定尺寸的切片图像;步骤S7:调用精检处理算法对裁剪的切片图像进行精检,获得精检目标的位置信息;步骤S8:将精检目标的位置信息转化成在单帧光学图像中对应的坐标;步骤S9:根据单帧光学图像中对应的坐标位置信息更新轨迹集;步骤S10:等待下一帧单帧光学图像进行目标跟踪轨迹的迭代更新。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 上海卫星工程研究所 基于光学序列图像的空间多目标点迹延续方法及系统

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