申请/专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司

申请日：2024-03-07

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117854581A

主分类号：G11C29/56

分类号：G11C29/56

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要：本发明提供了一种存储器测试系统及存储器测试方法，包括指令生成模块，所述指令生成模块被配置为基于目标存储页在所述待测存储器中的定位信息，生成定位读取指令；数据读取模块，所述数据读取模块被配置为将所述定位读取指令以及预设的目标读取电压数据发送至所述待测存储器，并接收所述待测存储器反馈的所述目标存储页对应的阈值电压数据；以及数据生成模块，所述数据生成模块被配置为生成所述目标存储页的电压分布数据。本发明提供了一种存储器测试系统及存储器测试方法，可以更加准确地分析出存储器产生坏块的原因。

主权项：1.一种存储器测试系统，其特征在于，所述存储器测试系统被配置为通信连接于待测存储器，包括：指令生成模块，所述指令生成模块被配置为基于目标存储页在所述待测存储器中的定位信息，生成定位读取指令，所述目标存储页为出现不可纠正的错误纠正码的存储页；数据读取模块，所述数据读取模块被配置为将所述定位读取指令以及预设的目标读取电压数据发送至所述待测存储器，以使所述待测存储器基于所述目标读取电压数据对所述目标存储页进行读取操作，并接收所述待测存储器反馈的所述目标存储页对应的阈值电压数据；以及数据生成模块，所述数据生成模块被配置为对所述阈值电压数据进行处理，以生成所述目标存储页的电压分布数据。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 合肥康芯威存储技术有限公司 一种存储器测试系统及存储器测试方法

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