申请/专利权人：北京泽石科技有限公司;泽石科技(武汉)有限公司

申请日：2020-11-30

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN112486748B

主分类号：G06F11/22

分类号：G06F11/22

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.09#授权;2021.03.30#实质审查的生效;2021.03.12#公开

摘要：本发明公开了一种测试系统及其测试方法。其中，该测试系统包括：用户终端，接收测试任务，其中，测试任务包括：测试参数和测试脚本代码；测试用插槽，用于放置待测试的样品；测试控制器，与用户终端进行互联通信，用于运行上传的测试任务，生成控制指令，将控制指令发送给测试执行器；测试执行器，测试执行器与测试控制器互联通信，且与测试用插槽相连，用于将接收到的控制指令通过具有硬件加速器的数据通路经由物理接口发送至样品，控制样品执行对应的测试操作，并收集测试执行结果。本发明解决了现有技术中的测试系统中的接口控制器基于存储器应用进行设计，由于测试过程耗时较长，导致测试效率低的技术问题。

主权项：1.一种测试系统，其特征在于，所述测试系统包括：用户终端，接收测试任务，其中，所述测试任务包括：测试参数和测试脚本代码；测试用插槽，用于放置待测试的样品；测试控制器，与所述用户终端进行互联通信，用于运行上传的所述测试任务，生成控制指令，将所述控制指令发送给测试执行器；测试执行器，所述测试执行器与所述测试控制器互联通信，且与所述测试用插槽相连，用于将接收到的所述控制指令通过具有硬件加速器的数据通路经由物理接口发送至所述样品，控制所述样品执行对应的测试操作，并通过所述数据通路确定测试执行结果；所述测试执行器用于在执行所述测试任务的过程中，统计错误比特数；或者，用于在执行所述测试任务的过程中，统计每次采集操作时的阈值电压分布，其中，所述采集操作为针对采集阈值电压的操作；当统计错误比特数时，所述测试执行器的具有硬件加速器的数据通路包括：控制寄存器组、特征数据生成逻辑电路、第一存储模块、第一数据采样电路模块、所述硬件加速器和至少一个结果寄存器，其中，控制寄存器组，通过所述数据通路分别与所述特征数据生成逻辑电路、所述第一存储模块、所述第一数据采样电路模块、所述硬件加速器和所述结果寄存器相连，用于控制各电路模块之间的互联关系；所述特征数据生成逻辑电路，用于生成模板数据，其中，所述模板数据与存储介质中写入的所述测试任务的数据模式相同；所述第一存储模块，用于存储所述特征数据生成逻辑电路生成的模板数据；所述第一数据采样电路模块，用于在每一个数据周期读取存储介质中的多个比特数据作为第一待比较数据；所述硬件加速器，用于在每一个数据周期，从所述模板数据中获取与所述第一待比较数据相对应的多个比特数据作为第二待比较数据，并统计所述第一待比较数据和所述第二待比较数据之间不同的比特数量；所述结果寄存器，用于在读取物理页的每一个数据周期，将所述硬件加速器的统计结果与上一个数据周期的统计结果累加，获得错误比特数的总数；其中，通过控制寄存器组控制所述特征数据生成逻辑电路、所述第一存储模块、所述第一数据采样电路模块、所述硬件加速器和所述结果寄存器的时序，以使每一个数据周期的读取所述第一待比较数据，生成所述模板数据同时进行，并在根据模板数据生成第二待比较数据，将第一待比较数据与第二待比较数据进行比较的同时，执行对下一个数据周期的读取所述第一待比较数据，生成所述模板数据。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京泽石科技有限公司;泽石科技(武汉)有限公司 测试系统及其测试方法

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