申请/专利权人：清华大学

申请日：2021-12-31

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN114324240B

主分类号：G01N21/41

分类号：G01N21/41;G01N21/45

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.09#授权;2022.04.29#实质审查的生效;2022.04.12#公开

摘要：本申请涉及一种折射率测量装置及方法，激光出射装置出射测量光和探测光，测量光经过光纤环形器进入双光路差动补偿装置，经过分光、差分移频以及光纤光栅的作用形成补偿后的测量光。补偿后的测量光经过光纤环形器回到激光出射装置进行调制形成调制后的探测光，数据处理装置根据调制后的探测光确定折射率变化。本申请采用光纤环形器与双光路差动补偿装置使得补偿后的测量光回到激光发生装置发生激光移频回馈效应。激光移频回馈效应具有高灵敏度特性，可以放大光纤光栅带来的光强信号变化，从而提高折射率测量装置的灵敏度。

主权项：1.一种折射率测量装置，其特征在于，包括：激光出射装置100，包括第一出射端口和第二出射端口，测量光从所述第二出射端口射出；光纤环形器110，包括第一环形器端口、第二环形器端口和第三环形器端口，所述测量光从所述第二环形器端口输入，从所述第三环形器端口输出；双光路差动补偿装置120，一端与所述第三环形器端口连接，用于接收所述测量光，另一端与所述第一环形器端口连接，用于向所述光纤环形器110出射补偿后的测量光，所述双光路差动补偿装置120包括第一分光移频单元121、第二分光移频单元122和光纤光栅123；所述激光出射装置100，还用于通过所述第二出射端口接收所述补偿后的测量光，并基于所述补偿后的测量光进行光强调制，通过所述第一出射端口出射调制后的探测光；数据处理装置130，与所述第一出射端口连接。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 清华大学 折射率测量装置及测量方法

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