申请/专利权人：上海集成电路研发中心有限公司

申请日：2020-12-14

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN112596965B

主分类号：G06F11/22

分类号：G06F11/22;G06F17/16;G06T5/70

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.09#授权;2021.04.23#实质审查的生效;2021.04.02#公开

摘要：本发明提供了一种数字图像坏簇统计方法、CIS芯片测试方法及集成电路自动测试机。其中，所述数字图像坏簇统计方法包括：将第一格式的图像数据分解为预设尺寸的多个子矩阵，每个所述子矩阵与所述预设尺寸的核矩阵进行预设计算；其中，所述核矩阵中的元素符合如下规律：任意两种包含至少两个元素的组合相乘的结果均不相同。如此配置，使得对原始的数字图像只需要进行一次扫描处理和计算就能够统计预设尺寸的各坏簇类型图像的数量，具备严谨高效的特点，解决了现有技术中图像坏簇的统计方法不够严谨，导致统计结果不够准确，统计效率低下的问题。

主权项：1.一种数字图像坏簇统计方法，其特征在于，所述数字图像坏簇统计方法包括：将第一格式的图像数据分解为预设尺寸的多个子矩阵，每个所述子矩阵与所述预设尺寸的核矩阵进行预设计算；其中，所述核矩阵中的元素符合如下规律：任意两种包含至少两个元素的组合相乘的结果均不相同；所述第一格式为，用0或者1对所述图像数据的像素点进行赋值，其中用0对正常的像素点进行赋值，用1对异常的像素点进行赋值；同时满足行数相等和列数相等的所述子矩阵中的元素和所述核矩阵中的元素具有对应关系，所述预设计算包括，将所述子矩阵中赋值为1的元素所对应的所述核矩阵中的元素相乘；所述数字图像坏簇统计方法包括：在得到所述第一格式的图像数据之后，获得坏簇分布集合，所述坏簇分布集合包括至少一个所述第一格式的所述预设尺寸的坏簇类型图像；对所述坏簇分布集合中的每个所述坏簇类型图像与所述核矩阵进行所述预设计算，得到坏簇类型计算结果，生成对应坏簇类型图像与计算结果之间的查找表；所述数字图像坏簇统计方法包括：获取所述子矩阵与所述核矩阵进行所述预设计算后的计算结果，并将计算结果与所述查找表进行比对，得到坏簇统计信息。

全文数据：

权利要求：

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