申请/专利权人：中国科学院近代物理研究所

申请日：2023-12-13

公开（公告）日：2024-04-05

公开（公告）号：CN117815576A

主分类号：A61N5/10

分类号：A61N5/10;G01T1/02;G01T1/29

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.23#实质审查的生效;2024.04.05#公开

摘要：本发明涉及放射治疗技术领域，提供一种用于离子FLASH装置的质量保证系统及方法，其中质量保证系统包括均匀度探测装置、剂量法拉第筒探测装置和多层法拉第筒探测装置，均匀度探测装置用于测量离子束流的横向剂量分布信息；剂量法拉第筒探测装置用于测量离子束流递送的总剂量；多层法拉第筒探测装置用于测量离子束流的布拉格峰位置。本发明实施例提供的用于离子FLASH装置的质量保证系统，通过均匀度探测装置、剂量法拉第筒探测装置和多层法拉第筒探测装置对离子FLASH装置的离子束流的横向分布、递送的总剂量和布拉格峰位置三个重要的束流品质参数进行质量保证，满足离子FLASH装置的质量保证需求。

主权项：1.一种用于离子FLASH装置的质量保证系统，其特征在于，包括：均匀度探测装置，用于测量离子束流的横向剂量分布信息，其中，横向为垂直于离子前进方向的平面，所述横向分解为水平方向和垂直方向，所述横向剂量分布信息包括离子束在所述水平方向的平均值、离子束在所述垂直方向的平均值、水平剖面分布和垂直剖面分布；剂量法拉第筒探测装置，用于测量离子束流递送的总剂量；多层法拉第筒探测装置，用于测量离子束流的布拉格峰位置。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国科学院近代物理研究所 用于离子FLASH装置的质量保证系统及方法

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