申请/专利权人：苏州简测科技有限公司

申请日：2024-01-26

公开（公告）日：2024-04-05

公开（公告）号：CN117633423B

主分类号：G06F17/15

分类号：G06F17/15;G01J3/28;G01N21/25;G06F17/13

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.05#授权;2024.03.19#实质审查的生效;2024.03.01#公开

摘要：本发明提出了一种自适应光谱去基线方法，通过以原始光谱数据S[i]附近最小值为基点，通过原始光谱数据一阶微分ΔS[i]判断出可能的特征峰位置并在这些位置进行线性插值，以此为基础趋近原始光谱数据S[i]的基线。该方法能够保证除去基线后的光谱数值均大于零，并且通过调整算法中参数适应不同类型的光谱。

主权项：1.一种自适应光谱去基线方法，其特征在于：第一步，获取原始光谱数据S[i]，0≤i≤N-1，N为探测器沿光谱色散方向的像元总数，i为探测器沿光谱色散方向的像元序号；第二步，获取原始光谱数据一阶微分ΔS[i]＝S[i+1]-S[i]，0≤i≤N-2，ΔS[N-1]＝ΔS[N-2]；第三步，第一基线B1[j]＝MinS[i]，Max0,j-h1≤i≤Minj+h1,N-1，0≤j≤N-1；h1为第一区间参数；第四步，第二基线B2[j]＝B1[j]，0≤j≤N-1，设置微分上限参数M，对于0≤j≤N-1，如果一阶微分ΔS[j]M，则第二基线B2[j]＝-106，针对所有值为-106的第二基线B2[j]，以距离其最近的两个B2[j1]0和B2[j2]0为基准进行线性替换：B2[j]＝B2[j2]–B2[j1]j2–j1*j–j1+B2[j1]；第五步，第三基线B3[j]＝MinS[i]，Max0,j-h2≤i≤Minj+h2,N-1，0≤j≤N-1；h2为第二区间参数；第六步，计算原始光谱数据平均值和第三基线平均值 h3为第三区间参数；第七步，设置调制参数α，最终基线B[i]为：

全文数据：

权利要求：

百度查询： 苏州简测科技有限公司 一种自适应光谱去基线方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD