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【发明公布】用于评价PSF图像相似性的方法_中国科学院长春光学精密机械与物理研究所_202410273612.1 

申请/专利权人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

申请日:2024-03-11

公开(公告)日:2024-04-12

公开(公告)号:CN117876720A

主分类号:G06V10/74

分类号:G06V10/74;G06T7/00

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开

摘要:本发明涉及光电成像技术领域,尤其涉及一种用于评价PSF图像相似性的方法。包括:S1:构建图像差异对比分析模型;S2:获取第一PSF图像和第二PSF图像,并将第一PSF图像和第二PSF图像均输入至图像差异对比分析模型进行数值拟合,对应获得第一PSF图像和第二PSF图像的径向数值曲线和能量集中度数值曲线;S3:计算第一PSF图像和第二PSF图像的径向对数数值曲线与能量集中度数值曲线的最大差异参数值;S4:结合第一PSF图像和第二PSF图像的径向对数数值曲线与能量集中度数值曲线的最大差异参数值,输出第一PSF图像和第二PSF图像的相似性对比结果。本发明能够有效评估两幅PSF图像的相似性。

主权项:1.一种用于评价PSF图像相似性的方法,其特征在于,具体包括如下步骤:S1:构建图像差异对比分析模型,所述图像差异对比分析模型包括径向数值函数和能量集中度函数: (1); (2); (3);其中,为径向数值函数,Mi,j为待输入PSF图像在第i行和第j列的像素点数值,为待输入PSF图像的质心位置坐标,为能量集中度函数,n*n为待输入PSF图像的采样点数,r为以待输入PSF图像的质心为中心的圆环半径,x为以待输入PSF图像的质心为起点,沿径向的采样距离,x∈[0,n-p],r∈[0,n-p],且x和r均为整数;S2:获取第一PSF图像和第二PSF图像,并将所述第一PSF图像和所述第二PSF图像均输入至所述图像差异对比分析模型进行数值拟合,对应获得所述第一PSF图像和所述第二PSF图像的径向数值曲线和能量集中度数值曲线;S3:通过下式将所述第一PSF图像和所述第二PSF图像的径向数值曲线均转换为径向对数数值曲线,并计算所述第一PSF图像和所述第二PSF图像的径向对数数值曲线与能量集中度数值曲线的最大差异参数值: (4);其中,为径向对数数值函数;S4:结合所述第一PSF图像和所述第二PSF图像的径向对数数值曲线与能量集中度数值曲线的最大差异参数值,输出所述第一PSF图像和所述第二PSF图像的相似性对比结果。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 用于评价PSF图像相似性的方法

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