申请/专利权人：南京云程半导体有限公司;上海云攀半导体有限公司

申请日：2024-01-30

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN117873804A

主分类号：G06F11/22

分类号：G06F11/22;G06F15/78

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开

摘要：本申请实施例涉及测试技术领域，公开了一种测试方法及测试系统。测试方法，包括：根据原始测试代码脚本，生成至少一个目标固件文件，所述原始测试代码脚本为用于对DDR进行测试的所有代码脚本，所述DDR与DDR控制器连接并在所述DDR控制器的控制下进行测试，每个所述目标固件文件的文件大小均小于等于所述DDR控制器所在SoC芯片中的iRAM的空间大小；在接收到当前接收到的所述目标固件文件执行完成的信息后，按照所述目标固件文件执行的先后顺序，下发当前执行完成的所述目标固件文件的下一所述目标固件文件，直到所有所述目标固件文件均被下发。有利于通过降低对SoC芯片中的iRAM的要求，降低SoC芯片的复杂度和成本。

主权项：1.一种测试方法，其特征在于，包括：根据原始测试代码脚本，生成至少一个目标固件文件，所述原始测试代码脚本为用于对DDR进行测试的所有代码脚本，所述DDR与DDR控制器连接并在所述DDR控制器的控制下进行测试，每个所述目标固件文件的文件大小均小于等于所述DDR控制器所在SoC芯片中的iRAM的空间大小；在接收到当前接收到的所述目标固件文件执行完成的信息后，按照所述目标固件文件执行的先后顺序，下发当前执行完成的所述目标固件文件的下一所述目标固件文件，直到所有所述目标固件文件均被下发。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 南京云程半导体有限公司;上海云攀半导体有限公司 一种测试方法及测试系统

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