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【发明公布】基于宽光谱监控的镀膜工艺方法_佛山市博顿光电科技有限公司;中山市博顿光电科技有限公司_202311873459.8 

申请/专利权人:佛山市博顿光电科技有限公司;中山市博顿光电科技有限公司

申请日:2023-12-29

公开(公告)日:2024-04-12

公开(公告)号:CN117867461A

主分类号:C23C14/54

分类号:C23C14/54;C23C14/46

优先权:["20221230 CN 2022117440817"]

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开

摘要:本申请涉及一种基于宽光谱监控的镀膜工艺方法,所述方法包括:安装待镀膜的工件及监控片;初始化并加载镀膜工艺;绘制圆周光谱曲线并定位监控片在产品转盘上的角度位置;镀膜工艺程序的自动执行;在镀膜过程中,实时采集监控片的光谱能量数据,拟合出当前膜层的真实厚度;并以此计算换层判停时间并触发换层判停逻辑;在换层后,对下一个膜层进行镀膜,直至完成镀膜工艺中的所有膜层。该技术方案,可以准确地定位到换层位置,避免了采用常规的以评价函数方法来控制换层的延时缺陷,可以确保成膜过程中对各个膜层厚度监控的精准度,特别是在多层镀膜时,能够显著减少换层误差累积,提升了光学薄膜产品的镀膜质量。

主权项:1.一种基于宽光谱监控的镀膜工艺方法,其特征在于,包括:S1,将待镀膜的工件及监控片安装到真空腔室的产品转盘上;S2,对各个部件进行初始化,并加载镀膜工艺文件;S3,控制产品转盘定速旋转,读取光谱仪的光谱能量并绘制圆周光谱曲线,根据所述圆周光谱曲线确定监控片在产品转盘上的角度位置;S4,控制所述产品转盘定速旋转,根据所述镀膜工艺文件进入镀膜程序;S5,在镀膜过程中,根据所述角度位置触发光谱仪实时采集监控片的光谱能量数据,依据所述光谱能量数据实时拟合出当前膜层的真实厚度;根据所述真实厚度计算换层判停时间,并触发换层判停逻辑进行换层;S6,在换层后,执行步骤S5对下一个膜层进行镀膜,直至完成镀膜工艺中的所有膜层。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 佛山市博顿光电科技有限公司;中山市博顿光电科技有限公司 基于宽光谱监控的镀膜工艺方法

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