申请/专利权人：苏州国溯科技有限公司

申请日：2021-08-12

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN113588599B

主分类号：G01N21/41

分类号：G01N21/41;G01N21/01

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.12#授权;2021.11.19#实质审查的生效;2021.11.02#公开

摘要：本发明公开了一种3D微透镜级联式芯片折射率传感器，用于测量待测样品的折射率，包括芯片、LED光源、入射光纤、出射光纤和检测器，芯片内设有样品入口、样品出口、微流道和多个检测通道；微流道串联于样品入口和样品出口之间，以使待测样品从样品入口流经微流道并从样品出口流出；每一检测通道由一个入射光纤沟槽、一个出射光纤沟槽，以及形成于微流道内的3D微透镜腔组成，当3D微透镜腔内充满待测样品时，3D微透镜腔内的待测样品构成3D微透镜；不同的检测通道中的3D微透镜腔的数量不同且同一检测通道中的3D微透镜腔呈级联排列。本发明的传感器能够实现多量程折射率检测，检出限低，且生产成本较低、加工便捷。

主权项：1.一种3D微透镜级联式芯片折射率传感器，其特征在于，用于测量待测样品的折射率，包括：芯片，所述芯片内设有样品入口、样品出口、微流道和多个检测通道；所述微流道串联于所述样品入口和所述样品出口之间，以使待测样品从所述样品入口流经所述微流道并从所述样品出口流出；每一所述检测通道由一个入射光纤沟槽、一个出射光纤沟槽，以及形成于所述微流道内的3D微透镜腔组成，所述3D微透镜腔位于所述入射光纤沟槽和所述出射光纤沟槽之间，当所述3D微透镜腔内充满待测样品时，所述3D微透镜腔内的待测样品构成3D微透镜；不同的所述检测通道中的所述3D微透镜腔的数量不同，同一所述检测通道中所述3D微透镜腔呈级联排列且任意两个相邻的所述3D微透镜腔的中心之间的距离相同；LED光源，所述LED光源用于产生入射光线；入射光纤，所述入射光纤用于插设在选定使用的一个所述检测通道的所述入射光纤沟槽中，以将所述入射光线引入所述芯片，并穿过级联的所述3D微透镜；出射光纤，所述出射光纤用于插设在选定使用的一个所述检测通道的所述出射光纤沟槽中，以收集穿过级联的所述3D微透镜后的出射光线；检测器，所述检测器用于记录所述出射光线的强度。

全文数据：

权利要求：

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