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【发明授权】一种存储器的故障测试系统以及方法_合肥康芯威存储技术有限公司_202410094844.0 

申请/专利权人:合肥康芯威存储技术有限公司

申请日:2024-01-24

公开(公告)日:2024-04-23

公开(公告)号:CN117608947B

主分类号:G06F11/22

分类号:G06F11/22

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.23#授权;2024.03.15#实质审查的生效;2024.02.27#公开

摘要:本发明提供了一种存储器的故障测试系统,包括:多功能测试主板,被配置为与多个待测存储器通讯连接,其中,所述多功能测试主板上设有可编程处理器,所述可编程处理器用以进行相应的接口资源配置,以生成多通道通讯协议;主机端,用以将多个带有连续编号的不同的测试文件通过所述多通道通讯协议下发至对应的所述待测存储器中;其中,所述待测存储器用以根据对应的所述测试文件进行测试,以生成相应的测试结果;所述可编程处理器还用以根据测试结果生成测试日志;所述主机端还用以对所述测试日志进行分析统计处理,生成故障测试报表。通过本发明提供的一种存储器的故障测试系统以及方法,能够提升存储器的故障测试效率。

主权项:1.一种存储器的故障测试系统,其特征在于,包括:多功能测试主板,被配置为与多个待测存储器通讯连接,其中,所述多功能测试主板上设有可编程处理器,所述可编程处理器包括互联资源单元、多个可编程逻辑单元和多个对应的通讯接口,每个所述可编程逻辑单元用以根据对应的所述待测存储器的类型,对所述通讯接口进行相应的接口资源配置,以生成多通道通讯协议;以及主机端,通讯连接于所述可编程处理器,用以将多个带有连续编号的不同的测试文件通过所述多通道通讯协议下发至对应的所述待测存储器中;其中,所述待测存储器用以根据对应的所述测试文件进行测试,以生成相应的测试结果;所述可编程处理器还用以根据测试结果生成测试日志;所述主机端还用以对所述测试日志进行分析统计处理,生成故障测试报表;所述主机端对所述测试日志进行分析统计处理包括:所述主机端对所述测试日志进行分析归类处理,生成故障汇总清单;所述主机端对所述故障汇总清单进行概率分布统计,生成故障测试报表;所述主机端设置有用户界面,所述用户界面包括待测存储器选择模块、测试文件选择模块、图像选择模块、分析归类模块、测试状态模块以及分布统计模块,以通过选择相应模块,实现对所述待测存储器的相应测试,所述测试文件选择模块内的所述测试文件包括基本命令测试文件、调优测试文件、初始化测试文件、特定环境测试文件、读写测试文件、固件更新测试文件、断电恢复测试文件以及休眠唤醒测试文件。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 合肥康芯威存储技术有限公司 一种存储器的故障测试系统以及方法

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