申请/专利权人：武汉颐光科技有限公司

申请日：2023-12-24

公开（公告）日：2024-04-16

公开（公告）号：CN117889958A

主分类号：G01J3/28

分类号：G01J3/28

优先权：

专利状态码：在审-公开

法律状态：2024.04.16#公开

摘要：本发明提供一种光谱仪的波长校准方法，包括：基于光谱仪采集光源的全光谱光强；根据多个理论特征峰波长，在全光谱光强上找到每个理论特征峰波长附近范围内的最大光强，并获取最大光强邻域内的所有光强；根据每一个邻域内的所有光强对应的原始波长，拟合迭代出对应的拟合特征峰波长；根据每一个邻域内的拟合特征峰波长和理论特征峰波长，采用预设修正方式对每一个原始波长进行修正。本发明通过光源的多个特征峰对光谱仪的波长进行校准，克服了在光谱仪的使用过程中，由于外界温度、压强、光学器件机械与光学缺陷等因素造成显示波长与实际波长存在系统偏差的问题。

主权项：1.一种光谱仪的波长校准方法，其特征在于，包括：基于光谱仪采集光源的全光谱光强，所述全光谱光强包括所有原始波长对应的光强信息；根据多个理论特征峰波长，在所述全光谱光强上找到每个理论特征峰波长附近范围内的最大光强，并获取所述最大光强邻域内的所有光强，对所述邻域内的所有光强进行归一化；根据每一个邻域内的所有归一化光强对应的原始波长，拟合迭代出对应的拟合特征峰波长；根据每一个邻域内的拟合特征峰波长和理论特征峰波长，采用预设修正方式对每一个原始波长进行修正，得到原始波长校准后的波长。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 武汉颐光科技有限公司 一种光谱仪的波长校准方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD