申请/专利权人：美国国家仪器有限公司

申请日：2019-09-23

公开（公告）日：2024-04-16

公开（公告）号：CN112752976B

主分类号：G01R29/08

分类号：G01R29/08

优先权：["20180925 US 16/141,733"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.16#授权;2021.05.21#实质审查的生效;2021.05.04#公开

摘要：描述了用于集成电路IC的硬件定时测试的天线表征系统和方法，所述IC具有被配置用于空中传输和或接收的集成天线。待测试IC例如，被测装置DUT可以被安装到电波暗室中的可调定位器。所述IC的射频RF特性例如，包含传输特性、接收特性和或波束形成特性可以使用所述电波暗室内的天线或探针阵列在空中进行测试，同时将所述可调定位器在多个取向中连续地转变。计数器和参考触发智能可以用于将测量结果与所述DUT的取向相关。

主权项：1.一种用于将被测装置DUT的射频RF测量值与所述DUT的取向相关的系统，所述系统包括：计算机，所述计算机耦合到非暂时性存储器介质；及RF测量系统，所述RF测量系统耦合到所述计算机，其中所述计算机被配置成将采集触发器序列传输到所述RF测量系统，其中响应于在所述RF测量系统当前未采集RF测量值时接收到所述采集触发器序列中的第一采集触发器，所述RF测量系统被配置成将第一参考触发器传输到所述计算机，发起对所述DUT的RF测量，以及将所述RF测量的第一结果传输到所述计算机，其中响应于在所述RF测量系统当前正在采集所述RF测量值时接收到所述采集触发器序列中的第二采集触发器，所述RF测量系统被配置成不将第二参考触发器传输到所述计算机并且不发起对所述DUT的第二RF测量，其中所述计算机还被配置成：从所述RF测量系统接收所述第一参考触发器和所述第一结果；响应于接收到所述第一参考触发器，在从所述RF测量系统接收到所述第一参考触发器时存储一个或多个计数器的值，其中所述一个或多个计数器的所述值是基于由取向编码器提供的信息生成的；以及基于所述第一结果与所述DUT的确定取向的相关性来生成所述DUT的天线表征信息，其中至少部分地基于在从所述RF测量系统接收到所述第一参考触发器时存储在所述计算机上的所述一个或多个计数器的所述值来确定所述DUT的所述取向。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 美国国家仪器有限公司 被测装置取向和射频测量的相关性

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