申请/专利权人:东莞市五鑫自动化科技有限公司
申请日:2023-08-31
公开(公告)日:2024-04-16
公开(公告)号:CN220794164U
主分类号:G01B11/08
分类号:G01B11/08
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2024.04.16#授权
摘要:本实用新型公开了一种激光测径装置,包括:机架,设有横向滑动座;激光测径头,设于所述横向滑动座上;托举结构,设于所述机架上,具有供磁辊放置的缺口;第一升降座,设于所述基座上,具有旋转驱动组,所述旋转驱动组能够作用于所述磁辊、使磁辊相对于所述激光测径头旋转。磁辊组装完成后,首先将磁辊放置于托举结构上,然后第一升降座驱动旋转驱动组下降并靠近磁辊、直至与磁辊接触,利用旋转驱动组带动磁辊旋转,磁辊旋转的同时,激光测径头射出激光作用于磁辊的外周壁,通过磁辊旋转得出磁辊的直径;与现有技术相比,本实用新型利用磁辊自转实现直径测量,有利于统一测量的标准,且与人工测量相比,测量的效率更高。
主权项:1.一种激光测径装置,其特征在于,包括:机架,设有横向滑动座;激光测径头,设于所述横向滑动座上;托举结构,设于所述机架上,具有供磁辊放置的缺口;第一升降座,设于所述机架上,具有旋转驱动组,所述旋转驱动组能够作用于所述磁辊、使磁辊相对于所述激光测径头旋转。
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权利要求:
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