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【发明授权】磁性体检查装置以及磁性体检查方法_株式会社岛津制作所_201980032544.7 

申请/专利权人:株式会社岛津制作所

申请日:2019-05-07

公开(公告)日:2024-04-26

公开(公告)号:CN112119301B

主分类号:G01N27/82

分类号:G01N27/82

优先权:["20180515 JP 2018-093812"]

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.26#授权;2021.01.08#实质审查的生效;2020.12.22#公开

摘要:该磁性体检查装置100包括:磁场施加部1,其对作为检查对象的磁性体W预先施加磁场,来调整磁性体的磁化的大小和方向;以及探测部2,其输出基于被磁场施加部施加了磁场的磁性体的磁场或磁场的变化的探测信号,其中,磁场施加部包括磁体11,该磁体11以同极的磁极面Pf彼此相向的方式配置在磁性体的两侧。

主权项:1.一种磁性体检查装置,具备:磁场施加部,其对作为检查对象的由长条件构成的磁性体预先施加磁场,来调整所述磁性体的磁化的大小和方向;以及探测部,其输出基于被所述磁场施加部施加了磁场之后的所述磁性体的磁场或磁场的变化的探测信号,其中,所述磁场施加部包括以同极的磁极面彼此相向的方式配置在所述磁性体的两侧的磁体,所述探测部包括探测线圈,所述探测线圈被设置为以所述磁性体为中心包围所述磁性体,沿着所述磁性体的延伸方向卷绕,并且所述探测线圈产生所述探测信号,所述探测部构成为还包括用于激励所述磁性体的磁化状态的激励线圈,所述探测线圈设置在所述激励线圈的内侧,所述探测线圈根据所述探测线圈的内部的全磁通或全磁通的变化,来探测通过由流经所述激励线圈的激励电流产生的磁场而被激励了磁化状态的所述磁性体的延伸方向的磁场或磁场的变化。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 株式会社岛津制作所 磁性体检查装置以及磁性体检查方法

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