申请/专利权人：中科芯云微电子科技有限公司

申请日：2024-02-23

公开（公告）日：2024-04-30

公开（公告）号：CN117952063A

主分类号：G06F30/392

分类号：G06F30/392;G06F30/398

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.17#实质审查的生效;2024.04.30#公开

摘要：本申请公开了一种PDK的测试图形生成方法及装置，包括：获取替换文件，替换文件包括尺寸固定的一个层的信息；使用替换文件替换原始PDK中参数化单元的版图文件，以得到虚拟库；基于虚拟库生成测试图形，测试图形用于测试原始PDK。由于在生成测试pattern时，只需使用一个层去布局，而无需使用原始PDK中pcell中大量层去布局，相当于生成测试pattern仅涉及一个层的计算量，也无需计算很多层的尺寸，从而节省了生成测试pattern所需的计算量，从而减少生成测试pattern所需的时间。

主权项：1.一种PDK的测试图形生成方法，其特征在于，所述方法包括：获取替换文件，所述替换文件包括尺寸固定的一个层的信息；使用所述替换文件替换原始PDK中参数化单元的版图文件，以得到虚拟库；基于所述虚拟库生成测试图形，所述测试图形用于测试所述原始PDK。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中科芯云微电子科技有限公司 PDK的测试图形生成方法及装置

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