申请/专利权人：株式会社日立高新技术

申请日：2022-01-24

公开（公告）日：2024-05-03

公开（公告）号：CN117980720A

主分类号：G01N15/0205

分类号：G01N15/0205

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.21#实质审查的生效;2024.05.03#公开

摘要：本发明的目的在于，在通过光照射来测量粒子的尺寸、密度等的情况下，减轻用户对测量装置输入粒子的折射率、溶剂的折射率的负担，并且提高依赖于折射率的测定精度。本发明的粒子测量装置确定透光窗与样品之间的沿着光轴方向的边界位置，使用该边界位置处的已知样品的折射率和所述透光窗的折射率来计算所述样品的折射率参照图6。

主权项：1.一种粒子测量装置，其测量在包含溶剂和粒子的样品内悬浮的所述粒子的尺寸，其特征在于，所述粒子测量装置具备：光源，其射出光；物镜，其对所述样品照射所述光；扫描部，其沿着所述光的光轴方向扫描所述样品的位置和所述物镜的位置中的至少任一个；检测部，其检测从所述样品反射的所述光的强度；以及运算部，其基于所述强度和所述溶剂的折射率来计算所述粒子的尺寸，所述光源经由透光窗对与所述透光窗接触的所述样品照射所述光，所述运算部在所述扫描部扫描所述样品的位置或所述物镜的位置的过程中确定所述强度的峰值，由此确定所述透光窗与所述样品之间的沿着所述光轴方向的边界位置，所述运算部根据将所述透光窗与所述样品之间的沿着所述光轴方向的边界位置作为所述物镜的焦点来照射所述光而反射的所述光的第一强度、将所述透光窗和具有已知的折射率的已知样品之间的沿着所述光轴方向的边界位置作为所述物镜的焦点来照射所述光而反射的所述光的第二强度、所述溶剂的折射率、所述已知样品的折射率、所述透光窗的折射率之间的关系，来计算所述溶剂的折射率。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 株式会社日立高新技术 粒子测量装置、粒子测量方法、样品容器

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