申请/专利权人：众瑞速联(武汉)科技有限公司

申请日：2021-03-17

公开（公告）日：2021-10-08

公开（公告）号：CN214374368U

主分类号：G01N21/88(20060101)

分类号：G01N21/88(20060101);G01N21/01(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2021.10.08#授权

摘要：本实用新型公开一种阵列波导光栅芯片外观检验盒，包括：外框、上盖、下盖、芯片阵列定位框和阵列波导光栅芯片，芯片阵列定位框设置于外框内，上盖和下盖分别置于芯片阵列定位框的正反两面且与外框可拆卸连接，上盖和下盖均为透明盖板；芯片阵列定位框内均匀布设有多个中空的定位槽，多个所述中空的定位槽内分别放置有阵列波导光栅芯片。本实用新型采用外框内设置芯片阵列定位框的结构，芯片阵列定位框上形成阵列布置的定位槽，定位槽内放置阵列波导光栅芯片，且用透明的上盖和下盖盖在芯片阵列定位框的正反两面，通过正反两面的透明板可清楚查看定位槽内阵列波导光栅芯片的外观表面，实现一次性检查多个阵列波导光栅芯片的两面外观状态。

主权项：1.一种阵列波导光栅芯片外观检验盒，其特征在于，包括：外框、上盖、下盖、芯片阵列定位框和阵列波导光栅芯片，其中，所述芯片阵列定位框设置于外框内，所述上盖和下盖分别置于芯片阵列定位框的正反两面且与外框可拆卸连接，所述上盖和下盖均为透明盖板；所述芯片阵列定位框内均匀布设有多个中空的定位槽，多个所述中空的定位槽内分别放置有阵列波导光栅芯片。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 众瑞速联(武汉)科技有限公司 一种阵列波导光栅芯片外观检验盒

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