申请/专利权人：北京爱德宝电子技术服务有限公司

申请日：2022-03-29

公开（公告）日：2022-11-25

公开（公告）号：CN217901936U

主分类号：G01R31/26

分类号：G01R31/26;G01R19/00

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2022.11.25#授权

摘要：本实用新型公开一种测试电路及测试装置，涉及电力电子器件测试技术领域，用于对各种不同型号的IGBT器件实现开启电压的自动化测试，降低测试成本。所述测试电路包括：控制驱动单元、测试单元、比较单元和供电单元，其中；供电单元通过测试单元与IGBT的C极电连接，IGBT的E极接地；比较单元的第一输入端连接于供电单元和测试单元之间，第二输入端连接于测试单元与IGBT的C极之间，比较单元的输出端与控制驱动单元电连接；控制驱动单元与IGBT的G极电连接，用于向IGBT的G极提供驱动信号和采集IGBT的开启电压。所述测试装置包括上述技术方案所提的测试电路。本实用新型提供的测试电路用于测试IGBT的开启电压。

主权项：1.一种测试电路，其特征在于，用于测试IGBT的开启电压，所述测试电路包括：控制驱动单元、测试单元、比较单元和供电单元，其中；所述供电单元通过所述测试单元与所述IGBT的C极电连接，所述IGBT的E极接地；所述比较单元的第一输入端连接于所述供电单元和所述测试单元之间，所述比较单元的第二输入端连接于所述测试单元与所述IGBT的C极之间，所述比较单元的输出端与所述控制驱动单元电连接；所述控制驱动单元与所述IGBT的G极电连接，用于向所述IGBT的G极提供PWM驱动信号和采集所述IGBT的开启电压。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京爱德宝电子技术服务有限公司 一种测试电路及测试装置

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