申请/专利权人：清华大学

申请日：2023-06-09

公开（公告）日：2023-10-24

公开（公告）号：CN116930306A

主分类号：G01N27/622

分类号：G01N27/622;H01J49/42

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2023.11.10#实质审查的生效;2023.10.24#公开

摘要：本发明提出了基于离子阱对样品进行淌度分析的方法、离子阱质谱仪及其用途。基于离子阱对样品进行淌度分析的方法包括：对待测样品进行离子化处理，以获得所述待测样品的多个待测离子；使多个所述待测离子进入离子阱；对所述待测离子进行AC振幅线性扫描，以令所述待测离子的一部分自所述离子阱中脱离；使探测器获取所述脱离所述离子阱的所述待测离子，以便获得所述待测样品的分析结果。该方法可以利用离子阱质谱仪实现高分辨率的淌度分析，适于分析复杂的生物、化学大分子同分异构体，且实施方式简单，利用微型离子阱质谱仪即可实现待测样品的精准分析。

主权项：1.一种基于离子阱对样品进行淌度分析的方法，其特征在于，包括：对待测样品进行离子化处理，以获得所述待测样品的多个待测离子；使多个所述待测离子进入离子阱；对所述待测离子进行AC振幅线性扫描，以令所述待测离子的一部分自所述离子阱中脱离；使探测器获取所述脱离所述离子阱的所述待测离子，以便获得所述待测样品的分析结果。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 清华大学 基于离子阱对样品进行淌度分析的方法、离子阱质谱仪及其用途

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