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【发明公布】一种E-fuse单元和E-fuse测试阵列的绕线方法_杭州广立微电子股份有限公司_202410039818.8 

申请/专利权人:杭州广立微电子股份有限公司

申请日:2024-01-11

公开(公告)日:2024-02-13

公开(公告)号:CN117556778A

主分类号:G06F30/394

分类号:G06F30/394;G06F30/398

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.03.01#实质审查的生效;2024.02.13#公开

摘要:本申请涉及一种E‑fuse单元和E‑fuse测试阵列的绕线方法,该E‑fuse单元包括E‑fuse和编程晶体管,E‑fuse的一端与编程晶体管的漏端相连;E‑fuse的另一端通过三层金属绕线引出,并在左右两侧分别将第三金属线的端部作为第一引脚;编程晶体管的源端通过三层金属绕线引出,并在左右两侧分别将第三金属线的端部作为第二引脚;通过三层金属绕线引出,包括:通过接触孔、第一金属线、第一通孔、第二金属线、第二通孔、第三金属线依次连接引出;其中,第一金属线、第二金属线、第三金属线是不同层的金属线。通过三层金属绕线的方式生成E‑fuse单元的引脚,从而对E‑fuse单元的引脚与金属焊盘之间的绕线电阻进行控制。

主权项:1.一种E-fuse单元,其特征在于,包括E-fuse和编程晶体管,所述E-fuse的一端与所述编程晶体管的漏端相连;所述E-fuse的另一端通过多层金属绕线引出,并在左右两侧分别将所述多层金属绕线中最后端金属线的端部作为第一引脚,即作为所述E-fuse单元的两个第一引脚;所述编程晶体管的源端通过多层金属绕线引出,并在左右两侧分别将所述多层金属绕线中最后端金属线的端部作为第二引脚,即作为所述E-fuse单元的两个第二引脚;所述通过多层金属绕线引出,包括:多层金属绕线形成网状走线,并利用通孔连接相邻金属层的金属线;最前端的金属线通过接触孔连接所述E-fuse的另一端或所述编程晶体管的源端。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 杭州广立微电子股份有限公司 一种E-fuse单元和E-fuse测试阵列的绕线方法

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