申请/专利权人：合芯科技有限公司;北京市合芯数字科技有限公司

申请日：2023-11-29

公开（公告）日：2024-03-08

公开（公告）号：CN117667541A

主分类号：G06F11/22

分类号：G06F11/22

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.03.26#实质审查的生效;2024.03.08#公开

摘要：本申请提供一种基于JTAG的通用可扩展调试装置、方法、芯片及开发系统，所述装置包括：JTAG模块，提供所述装置对外的第一组JTAG信号端口；信号生成模块，与所述JTAG模块通信连接，提供所述装置对外扩展出的第二组JTAG信号端口；所述信号生成模块被配置为将所述JTAG模块发送的请求信号解析后，通过所述第二组JTAG信号端口发出；还被配置为将所述第二组JTAG信号端口接收的回应数据存入所述JTAG模块中。本申请一方面可以解决因设计上引入新设计模块而带来的调试连接问题，另一方面还能够解决FPGA开发板带来的通用IO不够的问题。

主权项：1.一种基于JTAG的通用可扩展调试装置，其特征在于，所述装置包括：JTAG模块，提供所述装置对外的第一组JTAG信号端口；所述第一组JTAG信号端口包括以下中的至少一者：第一时钟信号端口、第一模式选择信号端口、第一数据输入信号端口和第一数据输出信号端口；信号生成模块，与所述JTAG模块通信连接，提供所述装置对外扩展出的第二组JTAG信号端口；所述第二组JTAG信号端口包括以下中的至少一者：第二时钟信号端口、第二模式选择信号端口、第二数据输入信号端口和第二数据输出信号端口；所述信号生成模块被配置为将所述JTAG模块发送的请求信号解析后，通过所述第二组JTAG信号端口发出；还被配置为将所述第二组JTAG信号端口接收的回应数据存入所述JTAG模块中。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 合芯科技有限公司;北京市合芯数字科技有限公司 基于JTAG的通用可扩展调试装置、方法、芯片及开发系统

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