申请/专利权人：超聚变数字技术有限公司

申请日：2022-08-30

公开（公告）日：2024-03-08

公开（公告）号：CN117663965A

主分类号：G01B7/00

分类号：G01B7/00;G01R1/067;G01R31/28

优先权：

专利状态码：在审-公开

法律状态：2024.03.08#公开

摘要：本申请实施例公开了一种探针位置偏离检测方法及ICT装置。该方法应用于测试平台，包括：控制设置于夹具的N个探针接触检测板的表面，检测板的表面中M个第一区域的阻抗均大于或均小于检测板的表面中除该M个第一区域外的第二区域的阻抗，该N个探针中的M个测试探针和该M个第一区域一一对应；在该N个探针中的至少两个探针、该检测板和测试平台构成电路回路后，获取该电路回路中的电路信息；根据该电路信息确定该M个测试探针中的偏离探针。本申请实施例通过电路信息检测替代人工视觉，检测探针是否发生位置偏离，测试速度更快，效率更高，可靠性更高。

主权项：1.一种探针位置偏离检测方法，其特征在于，应用于测试平台；所述方法包括：控制设置于夹具的N个探针接触检测板的表面，所述检测板的表面中M个第一区域的阻抗均大于或均小于所述检测板的表面中除所述M个第一区域外的第二区域的阻抗，所述N个探针中的M个测试探针和所述M个第一区域一一对应，N大于等于M，N、M为正整数；在所述N个探针中的至少两个探针、所述检测板和所述测试平台构成电路回路后，获取所述电路回路中的电路信息；根据所述电路信息确定所述M个测试探针中目标接触位置偏离对应所述第一区域的偏离探针，其中所述目标接触位置为所述测试探针和所述检测板接触的位置。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 超聚变数字技术有限公司 探针位置偏离检测方法及ICT装置

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