申请/专利权人：河南省计量测试科学研究院

申请日：2023-11-27

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN117722993A

主分类号：G01B15/02

分类号：G01B15/02

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.05#实质审查的生效;2024.03.19#公开

摘要：本发明涉及一种半值层自动测量设备，本发明有效解决了现有半值层测量过程中操作较为不便且测量精度低的问题；解决的技术方案包括：测量架上同轴心间隔设有第一环、第二环、第三环且第一环、第二环、第三环之与测量架转动安装，第一环、第二环、第三环的圆周壁上等距间隔设有若干安放孔且安放孔内设有限位组件，第一环、第二环、第三环分别连接有驱动组件，第一环中心位置设有探测器；在进行半值层测量过程中，无需工作人员更换调整铝片，整个过程只需控制相应的环进行转动，即可快速测出X射线源的半值层参数，而且还可实现对处于最外侧的铝片进行一定程度的清理，以免堆积于铝片表面的浮灰影响测量精度。

主权项：1.一种半值层自动测量设备，包括测量架1，其特征在于，所述测量架1上同轴心间隔设有第一环2、第二环3、第三环4且第一环2、第二环3、第三环4之与测量架1转动安装；所述第一环2、第二环3、第三环4的圆周壁上等距间隔设有若干安放孔5且安放孔5内设有限位组件，所述安放孔5内同轴心设有承托环6；所述第一环2、第二环3、第三环4分别连接有驱动组件，所述第一环2背离测量架1一侧可拆卸安装有磁吸板7；所述第一环2中心位置设有探测器8。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 河南省计量测试科学研究院 一种半值层自动测量设备

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