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【发明授权】循环冗余校验装置及循环冗余校验方法_北京紫光芯能科技有限公司_202311562802.7 

申请/专利权人:北京紫光芯能科技有限公司

申请日:2023-11-22

公开(公告)日:2024-03-19

公开(公告)号:CN117271201B

主分类号:G06F11/10

分类号:G06F11/10;G06F9/50

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.03.19#授权;2024.01.09#实质审查的生效;2023.12.22#公开

摘要:本申请公开了一种循环冗余校验装置及循环冗余校验方法,装置包括用于存储若干个校验参数块的校验参数缓存电路、触发控制电路和循环冗余校验电路,触发控制电路在校验触发条件满足时,向校验参数缓存电路发送触发信号,以触发校验参数缓存电路从若干个校验参数块中确定一个目标校验参数块;而后循环冗余校验电路获取待校验数据和目标校验参数块,基于目标校验参数块,使用预先配置的循环冗余校验算法,对待校验数据进行校验,实现了数据校验任务。由于校验触发条件包括:接收到校验完成信号,并且,循环冗余校验电路在完成校验后,会向触发控制电路发送校验完成信号,因此,本方案借由触发控制电路和校验参数缓存电路,实现了校验参数的自动更新。

主权项:1.一种循环冗余校验装置,其特征在于,包括:校验参数缓存电路,用于存储预配置的若干个校验参数块;触发控制电路,用于在预设的校验触发条件满足时,向所述校验参数缓存电路发送触发信号;其中,所述校验触发条件包括:接收到校验完成信号;所述触发信号用于触发所述校验参数缓存电路从所述若干个校验参数块中确定一个目标校验参数块;循环冗余校验电路,用于获取待校验数据,从所述校验参数缓存电路获取所述目标校验参数块,基于所述目标校验参数块,使用所述循环冗余校验电路中预先配置的循环冗余校验算法,对所述待校验数据进行校验;以及,在完成校验后,向所述触发控制电路发送所述校验完成信号。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京紫光芯能科技有限公司 循环冗余校验装置及循环冗余校验方法

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