申请/专利权人：昆山德美恒业电子有限公司

申请日：2023-08-07

公开（公告）日：2024-03-19

公开（公告）号：CN220626621U

主分类号：G01R31/44

分类号：G01R31/44;B07C5/342;B07C5/38;B65G15/58

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.19#授权

摘要：本实用新型公开了一种超薄发光模组结构发光检测设备，属于发光检测技术领域，包括机架，所述机架上固定安装有用于夹持发光模组并上料的等间距上料组件；所述等间距上料组件接触连接有用于单点检测LED光源的多点发光检测组件；所述机架上还连接有用于筛选合格品并将产品归类下料的下料筛选组件；所述多点发光检测组件包括伸缩组件和检测组件；伸缩组件的一端与外界的支撑设备固定连接，伸缩组件的另一端与检测组件固定连接，检测组件与等间距上料组件接触连接。通过上述方式，等间距上料组件用于自动上料，多点发光检测组件用于多点光源的单点逐一检测，下料筛选组件用于自动筛选下料。

主权项：1.一种超薄发光模组结构发光检测设备，包括机架1，其特征在于：所述机架1上固定安装有用于夹持发光模组并上料的等间距上料组件2；所述等间距上料组件2接触连接有用于单点检测LED光源的多点发光检测组件3；所述机架1上还连接有用于筛选合格品并将产品归类下料的下料筛选组件4；所述多点发光检测组件3包括伸缩组件31和检测组件32；伸缩组件31的一端与外界的支撑设备固定连接，伸缩组件31的另一端与检测组件32固定连接，检测组件32与超薄发光模组结构顶部接触连接。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 昆山德美恒业电子有限公司 一种超薄发光模组结构发光检测设备

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