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【发明公布】多路交织的ATE支持高频率单路模式的系统及测试方法_合肥精智达集成电路技术有限公司_202311636988.6 

申请/专利权人:合肥精智达集成电路技术有限公司

申请日:2023-12-01

公开(公告)日:2024-03-22

公开(公告)号:CN117743046A

主分类号:G06F11/22

分类号:G06F11/22;G01R31/28

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开

摘要:本发明公开了多路交织的ATE支持高频率单路模式的系统及测试方法,属于芯片自动化测试设备领域。包括全功能ALPG模块、高频单路模式专用ALPG模块、ALPGMUX多路选择器和信号调制模块;所述全功能ALPG模块、高频单路模式专用ALPG模块均与ATE的测试平台系统的交互接口通信连接,全功能ALPG模块的输出端、高频单路模式专用ALPG模块的输出端和ALPGMUX多路选择器通信连接。ALPGMUX多路选择器和信号调制模块通信连接,信号调制模块输出端和被测器件DUT连接。本发明通过增加新增高频单路模式专用ALPG模块实现高频率单路模式下对芯片进行测试,本发明降低了ALPG的FPGA编程的难度,也实现了客户的单路模式高于300MHz频率的需求,也降低了FPGA硬件的要求,方便了FPGA的选型,提高工作的效果和效率。

主权项:1.多路交织的ATE支持高频率单路模式的系统,其特征在于,包括全功能ALPG模块、高频单路模式专用ALPG模块、ALPGMUX多路选择器和信号调制模块;所述全功能ALPG模块与ATE的测试平台系统的交互接口通信连接,测试平台系统用于对集成电路芯片进行质量检测;全功能ALPG模块用于支持多路交织模式与普通单路模式下的芯片测试;所述高频单路模式专用ALPG模块与ATE的测试平台系统的交互接口通信连接,高频单路模式专用ALPG模块用用于支持高频单路模式下的芯片测试;所述全功能ALPG模块的输出端与ALPGMUX多路选择器的多路信号通道通信连接,ALPGMUX多路选择器的多路信号通道用于接收算法向量程序Pattern的多路信号以及普通的单路信号;所述高频单路模式专用ALPG模块的输出端与ALPGMUX多路选择器的单路信号通道通信连接,ALPGMUX多路选择器的单路信号通道用于接收算法向量程序Pattern的高频单路信号;所述ALPGMUX多路选择器与信号调制模块通信连接,信号调制模块用于对信号进行调制;所述信号调制模块输出端与被测器件DUT连接,调制后的信号作为测试向量,传输到被测器件DUT中,对被测器件DUT进行测试。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 合肥精智达集成电路技术有限公司 多路交织的ATE支持高频率单路模式的系统及测试方法

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