申请/专利权人：汪德焕

申请日：2023-12-21

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN117732744A

主分类号：B07C5/02

分类号：B07C5/02;B07C5/344;B07C5/36

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.09#实质审查的生效;2024.03.22#公开

摘要：本发明公开了一种电子元件检测方法。本发明包括工作台和其上表面的筛选组件，所述筛选组件的一侧固定连接有导向板；包括传动组件，所述传动组件位于导向板的上表面并与导向板活动连接；包括推送组件；包括监测模块，所述监测模块位于工作台的一侧方；包括AI对比模块，所述AI对比模块位于导向板远离筛选组件的一侧方。本发明通过设置筛选组件，使得LED等电子元件在检测工作开始前通过初步的筛选剔除掉规格有差异的部分，大大降低了电子元件的检测压力，从而有效提高电子元件的生产效率；通过设置清洁组件，使得电子元件表面不易附着灰尘等杂质以降低外界因素对检测结果造成的干扰，从而降低了电子元件检测流程中出现的误差。

主权项：1.一种电子元件检测方法，包括工作台1和其上表面的筛选组件，其特征在于：所述筛选组件的一侧固定连接有导向板2；包括传动组件，所述传动组件位于导向板2的上表面并与导向板2活动连接；包括推送组件，所述推送组件位于导向板2轴向靠近传动组件的一端并与导向板2固定连接；包括监测模块，所述监测模块位于工作台1的一侧方，所述监测模块被配置成用于监测电路中的故障情况；包括AI对比模块，所述AI对比模块位于导向板2远离筛选组件的一侧方，所述AI对比模块被配置成用于观测电子元件物理外观的差异。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 汪德焕 一种电子元件检测方法

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