申请/专利权人：苏州联讯仪器股份有限公司

申请日：2021-09-29

公开（公告）日：2024-03-22

公开（公告）号：CN114325297B

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28;H01S5/00;B01D46/10

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.22#授权;2023.04.21#著录事项变更;2022.04.29#实质审查的生效;2022.04.12#公开

摘要：本发明公开一种激光器芯片的老化测试装置，包括：箱体和沿竖直方向间隔设置于箱体内的若干个隔热板，上下相邻的两个隔热板与箱体之间围成一炉腔，每个所述炉腔内可抽拉地安装有至少一个单元抽屉，单元抽屉包括水平设置的底板和垂直设置于底板一端的前面板，所述箱体的底部具有一风仓，所述箱体内具有一沿竖直方向设置的落灰通道，所述落灰通道位于隔热板远离前面板一端与箱体的内壁之间，所述落灰通道与炉腔、风仓连通且其与炉腔、风仓之间安装有过滤网，所述落灰通道底部并位于过滤网相背于风仓的一侧活动安装有一集尘盒。本发明可实现对炉腔内灰尘杂质的及时收集排出，保证长期使用过程中对芯片的测试精度和测试装置整体的稳定性、安全性。

主权项：1.一种激光器芯片的老化测试装置，包括：箱体（1）和沿竖直方向间隔设置于箱体（1）内的若干个隔热板（2），上下相邻的两个隔热板（2）与箱体（1）之间围成一炉腔（3），每个所述炉腔（3）内可抽拉地安装有至少一个单元抽屉（4），其特征在于：所述单元抽屉（4）包括水平设置的底板（41）和垂直设置于底板（41）一端的前面板（42），所述底板（41）的另一端嵌入炉腔（3）内并与围成炉腔（3）的隔热板（2）滑动连接；所述箱体（1）的底部具有一风仓（5），所述风仓（5）内安装有一驱动电机（6），该驱动电机（6）的驱动轴上连接有扇叶（7），所述箱体（1）内具有一沿竖直方向设置的落灰通道（8），所述落灰通道（8）位于隔热板（2）远离前面板（42）一端与箱体（1）的内壁之间，所述落灰通道（8）与炉腔（3）、风仓（5）连通且其与炉腔（3）、风仓（5）之间安装有过滤网（9），所述落灰通道（8）底部并位于过滤网（9）相背于风仓（5）的一侧活动安装有一集尘盒（10）；所述单元抽屉（4）的前面板（42）内壁上安装有一第一转轴（11），所述第一转轴（11）上安装有风扇（12），所述底板（41）远离前面板（42）一端的端面上连接有一密封软垫（13），该密封软垫（13）的一端与底板（41）连接、另一端竖直向上折弯并连接有一拉绳（15），靠近过滤网（9）竖直设置的所述拉绳（15）远离密封软垫（13）的一端活动缠绕于一转环（14）上，所述转环（14）安装于位于底板（41）上方的隔热板（2）上。

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权利要求：

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