申请/专利权人：上海杉杉新材料有限公司

申请日：2023-12-25

公开（公告）日：2024-03-26

公开（公告）号：CN117761031A

主分类号：G01N21/65

分类号：G01N21/65;G01N1/38

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.12#实质审查的生效;2024.03.26#公开

摘要：本发明公开了一种负极极片表面斑点产生原因的分析方法。该方法包括：S1、获得用于制备待测负极极片中原料的缺陷程度；S2、分别获得待测负极极片的正常区域和斑点区域的缺陷程度；S3、若正常区域的缺陷程度大于斑点区域的缺陷程度，则确定造成待测负极极片表面斑点产生原因的物质为原料中缺陷程度较小的物质；若正常区域的缺陷程度小于斑点区域的缺陷程度，则确定造成待测负极极片表面斑点产生原因的物质为原料中缺陷程度较大的物质；若正常区域的缺陷程度等于斑点区域的缺陷程度，则无法确定造成待测负极极片的表面斑点产生原因的物质。该分析方法可获得负极极片斑点产生的原因，从本质源头上帮助解决极片表面斑点问题。

主权项：1.一种负极极片表面斑点产生原因的分析方法，其特征在于，其包括如下步骤：S1、获得用于制备待测负极极片中原料的缺陷程度；其中，所述原料为碳基活性材料和导电剂；S2、分别获得所述待测负极极片的正常区域和斑点区域的缺陷程度；S3、根据步骤S1和步骤S2的结果，进行下述分析：若所述正常区域的缺陷程度大于所述斑点区域的缺陷程度，则确定造成所述待测负极极片表面斑点产生原因的物质为所述原料中缺陷程度较小的物质，记为物质A；若所述正常区域的缺陷程度小于所述斑点区域的缺陷程度，则确定造成所述待测负极极片表面斑点产生原因的物质为所述原料中缺陷程度较大的物质，记为物质A；若所述正常区域的缺陷程度等于所述斑点区域的缺陷程度，则无法确定造成所述待测负极极片表面斑点产生原因的物质；其中，步骤S1和步骤S2的先后顺序不限；所述缺陷程度用IDIG来表示。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海杉杉新材料有限公司 一种负极极片表面斑点产生原因的分析方法

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