申请/专利权人：电子科技大学

申请日：2023-02-14

公开（公告）日：2024-03-26

公开（公告）号：CN115842234B

主分类号：H01P7/08

分类号：H01P7/08

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.26#授权;2023.06.30#实质审查的生效;2023.03.24#公开

摘要：本发明属于微波测试技术领域，涉及微波介质材料复介电常数测试技术，具体提供一种带状线谐振器，用以解决覆刻方式的带状线谐振器存在的需要先验微波介质材料的电磁参数、不可调节及灵活性差的问题，侧边耦合方式的带状线谐振器存在的杂模多、损耗测不准的问题。本发明在金属导带、微波介质材料、上接地金属板、下接地金属板构成的基础结构中创造性的提出上下耦合方式，于上、下接地金属板的外侧上、下表面对称设置耦合探针；在复介电常数测试过程中，该结构能够去除传统耦合方式的辐射损耗，避免空气不匹配层的出现，进而减小复介电常数测试误差。

主权项：1.一种带状线谐振器，包括：金属导带、上微波介质材料块、下微波介质材料块、上接地金属板、下接地金属板、上耦合探针与下耦合探针；其特征在于，所述带状线谐振器呈长方体结构，所述金属导带设置于带状线谐振器的中心位置，所述上接地金属板、上微波介质材料块、金属导带、下微波介质材料块、下接地金属板由上至下依次设置，所述上微波介质材料块与下微波介质材料块、上接地金属板与下接地金属板、以及上耦合探针与下耦合探针均关于金属导带所在平面上下对称设置；所述上接地金属板与下接地金属板均于中心位置开设耦合孔，对应匹配上耦合探针与下耦合探针；所述金属导带平行于微波介质材料块的长边设置，且其长度为0.6L～0.7L、L为微波介质材料块的长度。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 电子科技大学 一种带状线谐振器

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