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【发明公布】一种基于MOS管栅极泄漏电流的温度传感器_电子科技大学_202410002763.3 

申请/专利权人:电子科技大学

申请日:2024-01-02

公开(公告)日:2024-04-02

公开(公告)号:CN117804622A

主分类号:G01K7/00

分类号:G01K7/00

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.19#实质审查的生效;2024.04.02#公开

摘要:本发明属于模拟集成电路领域,涉及集成电路中的温度传感器,具体为一种基于MOS管栅极泄漏电流的温度传感器。本发明利用MOS管的栅极泄露电流,使该电流流经工作在亚阈区的MOS管,从而产生CTAT电压。由于栅极泄露电流极小,因此保证了感温前端极低的功耗。由于将输出信号建立了与阈值电压之间的线性关系,而阈值电压在较宽的温度范围内,与温度有着强线性关系,因此在电路结构简单的同时,也保证了较宽的感温范围和较高的温度线性度。同时,本发明可扩展性较高,可根据性能需求,在不同的应用场景下采用不同的量化模块以满足相应的需求,有利于集成在芯片内部实现高精度感温。

主权项:1.一种基于MOS管栅极泄漏电流的温度传感器,其特征在于:包括NMOS管M1、M3和PMOS管M2、M4;所述NMOS管M1和PMOS管M2构成感温电路,产生负温度系数的电压,即CTAT输出电压;M1接成MOS电容的形式,产生栅极泄露电流;M2为PMOS管,工作在亚阈区;整条感温电路上的电流由接成MOS电容形式的M1决定,M1与M2一同产生CTAT电压,即VCTAT;所述NMOS管M3和PMOS管M4构成补偿电路,M3为NMOS管接成MOS电容的形式,M4为PMOS管工作在亚阈区,M3和M4作为复制的电压基准,将M1的衬底电流引到复制的电压基准上,避免M1的衬底电流对VCTAT的温度线性度造成影响。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 电子科技大学 一种基于MOS管栅极泄漏电流的温度传感器

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