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【发明公布】一种检测回环优化程度的方法、装置、设备及存储介质_浙江华睿科技股份有限公司_202311766038.5 

申请/专利权人:浙江华睿科技股份有限公司

申请日:2023-12-20

公开(公告)日:2024-04-02

公开(公告)号:CN117806316A

主分类号:G05D1/43

分类号:G05D1/43

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.19#实质审查的生效;2024.04.02#公开

摘要:本申请公开一种检测回环优化程度的方法、装置、设备及存储介质。该方法包括:确定第一位姿信息集合对应的第二位姿信息集合;确定任意一个第一位姿信息与之前目标采集时间对应的第一位姿信息之间的第一偏移量,以及任意一个第一位姿信息对应的第二位姿信息与之前目标采集时间对应的第二位姿信息之间的第二偏移量;基于确定的各第一偏移量和确定的各第二偏移量,确定目标偏移量;若目标偏移量超过预设偏移量,则确定第二位姿信息集合对应的回环优化程度超过基准程度,基准程度表征位姿信息采集装置在相同位置得到的多帧位姿信息相匹配。通过上述方法能够得到准确的回环优化程度,以确定构建自动导向车在运动过程中所需地图的姿态信息。

主权项:1.一种检测回环优化程度的方法,其特征在于,所述方法包括:确定第一位姿信息集合对应的第二位姿信息集合,其中,所述第一位姿信息集合基于安装在自动导向车上的位姿信息采集装置得到,所述第二位姿信息集合为对所述第一位姿信息集合中的多个位姿信息进行回环优化得到,所述第一位姿信息集合中的各第一位姿信息与所述第二位姿信息集合中的各第二位姿信息一一对应;针对任意一个第一位姿信息,确定所述任意一个第一位姿信息与之前目标采集时间对应的第一位姿信息之间的第一偏移量,以及所述任意一个第一位姿信息对应的第二位姿信息与之前目标采集时间对应的第二位姿信息之间的第二偏移量;基于确定的各第一偏移量和确定的各第二偏移量,确定目标偏移量;若所述目标偏移量超过预设偏移量,则确定所述第二位姿信息集合对应的回环优化程度超过基准程度,所述基准程度表征所述位姿信息采集装置在相同位置得到的多帧位姿信息相匹配。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 浙江华睿科技股份有限公司 一种检测回环优化程度的方法、装置、设备及存储介质

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